你可能感興趣的試題

多項選擇題

在晶體管內(nèi)基片上有一個裂縫，可以導致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）

A.“集電極到發(fā)射極開路”是故障原因（機理）
B.“集電極到發(fā)射極開路”是故障模式
C.“晶體管內(nèi)基片上有裂縫”是故障原因（機理）
D.“晶體管內(nèi)基片上有裂縫”是故障模式

多項選擇題

可靠性預計的目的和用途主要是（）

A.評價是否能夠達到要求的可靠性指標
B.在方案論證階段，比較不同方案的可靠性水平，為最優(yōu)方案的選擇及優(yōu)化提供依據(jù)
C.在設計中，發(fā)現(xiàn)影響可靠性的主要因素，找出薄弱環(huán)節(jié)，采取措施，提高系統(tǒng)可靠性
D.為可靠性分配奠定基礎

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產(chǎn)品可靠性定義的要素是三個“規(guī)定”，即（）

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在晶體管內(nèi)基片上有一個裂縫，可以導致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）

可靠性預計的目的和用途主要是（）

產(chǎn)品可靠性定義的要素是三個“規(guī)定”，即（）

在晶體管內(nèi)基片上有一個裂縫，可以導致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）