室溫下,n型硅樣品中,摻雜濃度ND=1016cm-3。光均勻照射Si樣品上,電子-空穴對的產(chǎn)生率為1.25×1020cm-3s-1,樣品壽命為8μs。計算無光照和有光照的電導(dǎo)率。其中,已知q=1.6×10-19C