判斷題

以相同的探測(cè)靈敏度探測(cè)粗晶鑄件或經(jīng)過(guò)調(diào)質(zhì)鍛件中的缺陷，如兩者探測(cè)面狀態(tài)一樣，在相同深度時(shí)缺陷的回波高度也一樣，則兩者的缺陷鑄件中的大。

答案： 正確
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用試塊對(duì)比法測(cè)得的缺陷大小與實(shí)際大小相等。
答案： 錯(cuò)誤
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