A、單元測(cè)試 B、模塊測(cè)試 C、子系統(tǒng)測(cè)試 D、驗(yàn)證測(cè)試
A、適用于白盒測(cè)試的方法是邊界值分析 B、適用于白盒測(cè)試的方法是邏輯覆蓋法 C、適用于白盒測(cè)試的方法是錯(cuò)誤推測(cè)法 D、適用于白盒測(cè)試的方法是劃分等價(jià)類
A、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邊界值分析在很大程度上是試探性的,與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān) B、黑盒測(cè)試技術(shù)中的劃分等價(jià)類在很大程度上是試探性的,與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān) C、黑盒測(cè)試技術(shù)中的錯(cuò)誤推測(cè)法在很大程度上是試探性的,與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān) D、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邏輯覆蓋法在很大程度上是試探性的,與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)