A.缺陷深度 B.缺陷至探頭前沿距離 C.缺陷聲程 D.以上都可以
A.λ/4的奇數(shù)倍 B.λ/2的整數(shù)倍 C.小于λ/4且很薄 D.以上B和C
A.曲面探傷時可減少耦合損失 B.可減少材質(zhì)衰減損失 C.輻射聲能大且能量集中 D.以上全部