A.斜平行掃查 B.串列掃查 C.雙晶斜探頭前后掃查 D.交叉掃查
A.條狀夾渣 B.氣孔或圓形夾渣 C.裂紋 D.以上A和C
A.近場效應(yīng) B.受分辨力影響 C.盲區(qū) D.受反射波影響