A.測(cè)試程序能對(duì)所有硬件元件的好壞進(jìn)行測(cè)試B.硬件電路調(diào)試時(shí)必須使用測(cè)試程序C.使用測(cè)試程序可以幫助提高調(diào)試工作效率D.單片機(jī)出廠(chǎng)時(shí)在程序存儲(chǔ)器中已自帶測(cè)試程序
A.邊緣B.左側(cè)C.右側(cè)D.中心
A.系統(tǒng)供電異常B.單片機(jī)工作異常C.傳感器連接異?;騻鞲衅鲹p壞D.液晶屏驅(qū)動(dòng)電路損壞