問答題

【簡答題】薄膜樣品的基本要求是什么?具體工藝過程如何?雙噴減薄與離子減薄各適用于制備什么樣品?

答案: 樣品的基本要求:
1)薄膜樣品的組織結構必須和大塊樣品相同,在制備過程中,組織結構不變化;
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答案: 宏觀應力對X射線衍射花樣的影響是造成衍射線位移。衍射儀法測定宏觀應力的方法有兩種,一種是0°-45°法。...
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【簡答題】測角儀在采集衍射圖時,如果試樣表面轉到與入射線成300角,則計數(shù)管與入射線所成角度為多少?能產生衍射的晶面,與試樣的自由表面是何種幾何關系?

答案: 當試樣表面與入射X射線束成30°角時,計數(shù)管與入射X射線束的夾角是600。能產生衍射的晶面與試樣的自由表面平行。
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