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問答題
【簡(jiǎn)答題】解釋半導(dǎo)體探測(cè)器的輻射損傷效應(yīng)。
答案：
半導(dǎo)體探測(cè)器受強(qiáng)輻射照射一段時(shí)間以后性能會(huì)逐漸變壞，這種效應(yīng)稱為半導(dǎo)體探測(cè)器的輻射損傷效應(yīng)，簡(jiǎn)稱輻射損傷或輻照效應(yīng)。
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問答題
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答案：
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問答題
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答案：
（1）空穴-電子對(duì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)漲落
（2）散射效應(yīng)
（3）探測(cè)器的噪聲
（4）空氣和窗吸收的影響
