A.光速測(cè)量的誤差主要來源于波長測(cè)量的誤差 B.電路不穩(wěn)定造成的相移變化是較緩慢的。在這種情況下,只要測(cè)量所用的時(shí)間足夠短,就可以把相移的緩慢變化作線性近似 C.采用發(fā)射光束中不同的位置進(jìn)行測(cè)量不會(huì)給波長測(cè)量帶來誤差 D.光源的位相一致性好壞及信號(hào)強(qiáng)度的大小不會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性和精度
A.為了提高光速儀所產(chǎn)生激光的亮度 B.電子儀器存在溫飄問題 C.為了增大頻率計(jì)輸出信號(hào)的能量 D.電學(xué)儀器都要進(jìn)行預(yù)熱才能使用
當(dāng)信號(hào)的頻率很高時(shí),測(cè)量相位是比較困難的,為了避免這個(gè)問題,在光速測(cè)量實(shí)驗(yàn)中采用了()的方法,將100MHz的()和()分別與本機(jī)振蕩器產(chǎn)生的()混頻,得到兩個(gè)低頻信號(hào)進(jìn)行比相。 a.高頻基準(zhǔn)信號(hào) b.高頻振蕩信號(hào) c.高頻被測(cè)信號(hào) d.差頻檢相
A.d;a;c;b B.d;b;c;a C.d;a;b;c D.d;c;b;a