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單項(xiàng)選擇題

THDS（哈科所）探測(cè)站熱靶鍍膜損傷時(shí)，影響（）。

A.探測(cè)角度
B.保護(hù)門(mén)打開(kāi)
C.保護(hù)門(mén)關(guān)閉
D.探測(cè)精度

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單項(xiàng)選擇題

THDS（哈科所）探測(cè)站，紅外軸溫探測(cè)系統(tǒng)內(nèi)探探頭在晴朗天空下，天空值出現(xiàn)高值，有可能是（）所致。

A.陽(yáng)光干擾
B.軸溫高
C.軸溫低
D.探頭異常

單項(xiàng)選擇題

THDS（哈科所）探測(cè)站的前放板前面的測(cè)量端子用于測(cè)量環(huán)溫電路、（）的輸出。

A.磁鋼電路
B.探頭電路
C.環(huán)溫電路
D.板溫電路

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