如圖所示,G1是用來檢驗加工件質(zhì)量的標準件,G2是待測的加工件。它們的端面都經(jīng)過磨平拋光處理,將G1和G2放置在平臺上,用一光學平板玻璃T蓋住,設垂直入射的波長λ=589.3nm,G1與G2相隔d=0.5cm,T與G1以及T與G2間的干涉條紋的間隔都是0.5mm,求G1與G2的高度差△h。
A.從A到B移動qC的電荷,電場力做功1J B.從A到B移動1C的正電荷,電場力做功1J C.從A到B移動1C的負電荷,克服電場力做功1J D.從A到B移動1C的負電荷,外力做功1J
波長為λ的單色光垂直照射到折射率為n2的劈形膜上,如圖所示,圖中n1<n2<n3,觀察反射光形成的干涉條紋。