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子系統(tǒng)測(cè)試通常采用自頂向下和自底向上兩種測(cè)試方法。
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系統(tǒng)測(cè)試比模塊測(cè)試更容易發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,能更有效地進(jìn)行排錯(cuò)處理
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黑箱測(cè)試即不僅要考慮程序內(nèi)部是如何編制的,而且要依據(jù)外部結(jié)構(gòu)和軟件功能對(duì)模塊進(jìn)行測(cè)試。
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