A、有利于缺陷的清晰顯示 B、垂直入射到被檢件表面 C、平行與被檢件表面 D、必須與被檢件成30°角
A、紅光 B、紫外線 C、紅外線 D、日光
A、日光光源 B、半導(dǎo)體光源 C、氣體放電光源 D、溫度輻射光源