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問(wèn)答題
在（a），（b）兩圖中，實(shí)線代表原子發(fā)射光譜法中有背景時(shí)的工作曲線，虛線代表扣除了背景后的工作曲線，
試說(shuō)明：
（1）各屬于什么情況下產(chǎn)生的光譜背景（判斷光譜干擾是來(lái)自分析線還是來(lái)自內(nèi)標(biāo)線）？
（2）對(duì)測(cè)定結(jié)果有無(wú)影響？
答案：
（1）A為分析線有背景。此時(shí)待測(cè)元素含量低，背景強(qiáng)度幾乎等于分析線強(qiáng)度（Ib≈I
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問(wèn)答題
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答案：
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問(wèn)答題
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答案：
內(nèi)標(biāo)是指置于各試樣及標(biāo)樣中的一定濃度的某元素。使用方法如下：
取定量的內(nèi)標(biāo)物分別置于被測(cè)試樣及標(biāo)準(zhǔn)物之中，在選...
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