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問答題
【簡答題】TEM圖像的質厚襯度和衍射襯度是如何形成的，分別適合分析哪類材料？
答案：
質厚襯度是由于樣品不同區(qū)域的厚度或/和原子序數(shù)差異產生的襯度，適用于對非晶材料的分析。衍射襯度是當電子束入射到樣品中結晶...
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問答題
【簡答題】為何用SEM分析非導電樣品前要對它進行噴金或噴碳處理？如何利用SEM分析材料內部結構？
答案：
由于進入和離開樣品的電子數(shù)量不平衡，電子在樣品表面積聚產生放電現(xiàn)象，影響二次電子成像和背散射電子成像的效果，因此在SEM...
問答題
【簡答題】特征X射線是如何產生的？利用特征X射線能得到樣品哪些信息？
答案：
樣品中原子的內層電子被入射電子轟擊出來后，相鄰外層能量較高的電子會迅速發(fā)生躍遷，填補內層電子空位。由于原子內外層電子存在...
