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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】透射式電子顯微鏡
答案：
主要用于顯微結(jié)構(gòu)分析、晶粒形貌、晶體缺陷、納米顆粒大小、界面結(jié)構(gòu)、高分辨晶格像、微區(qū)成分分析等。
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】摩擦學(xué)研究所應(yīng)用的主要分析測(cè)試技術(shù)大體上可分為三類(lèi)：
答案：
（1）、摩擦與潤(rùn)滑材料以及涂層的摩擦學(xué)性能測(cè)試技術(shù)；（2）、摩擦表面測(cè)試分析技術(shù)；（3）、磨損微粒分析技術(shù)。
