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問答題
【簡答題】Open-short功能測試優(yōu)缺點(diǎn)。
答案：
優(yōu)點(diǎn)
相對(duì)于DC串行/靜態(tài)法，運(yùn)行測試向量要快得多。
缺點(diǎn)
datalog顯示的結(jié)果信息有...
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問答題
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