問答題

【簡答題】IIH/IIL集體測試法優(yōu)缺點(diǎn)。

答案： 優(yōu)點(diǎn)：能在短時(shí)間內(nèi)迅速進(jìn)行漏電流的測試。
缺點(diǎn)：
1.測試對象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
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問答題

【簡答題】IIL串行測試方法。
答案： 1、電源端施加VDDmax；
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
3、對待測管腳施加低電...
問答題

【簡答題】VOH/IOH靜態(tài)測試方法。
答案： 1、器件的所有輸出管腳預(yù)置為邏輯高狀態(tài)；
2、對待測的輸出管腳施加spec上指定的電流IOH（拉電流）；
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