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A.屬裝備偽影
B.SE序列T₂加權或質子密度加權像易出現
C.B₀不均勻
D.T₂對B₀不均勻敏感
E.受RF頻率影響

A.增加信噪比、提高分辨率、增加掃描時間
B.降低信噪比、提高分辨率、增加掃描時間
C.增加信噪比、降低分辨率、增加掃描時間
D.降低信噪比、降低分辨率、增加掃描時間
E.降低信噪比、提高分辨率、縮短掃描時間

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