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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】何時(shí)需要考慮進(jìn)行完全測(cè)試和功能測(cè)試？
答案：
研制階段，為分析電路可能存在的缺陷和隱含的問(wèn)題，應(yīng)對(duì)樣品進(jìn)行完全測(cè)試
生產(chǎn)階段，為提高測(cè)試效率以降低測(cè)試成本，...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】什么是數(shù)字電路的完全測(cè)試和功能測(cè)試？
答案：
完全測(cè)試是對(duì)芯片進(jìn)行全部狀態(tài)和功能的測(cè)試，要考慮集成電路的所有的可能狀態(tài)和功能。
功能測(cè)試是對(duì)在集成電路設(shè)計(jì)之...
功能測(cè)試是對(duì)在集成電路設(shè)計(jì)之...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】可測(cè)試性的3個(gè)重要方面是什么？每一種的含義是什么？
答案：
測(cè)試生成：是指產(chǎn)生驗(yàn)證電路的一組測(cè)試碼又稱為測(cè)試矢量
測(cè)試驗(yàn)證：指一個(gè)給定測(cè)試集合的有效性測(cè)度，通常是通過(guò)故障...
測(cè)試驗(yàn)證：指一個(gè)給定測(cè)試集合的有效性測(cè)度，通常是通過(guò)故障...
