A.禁止使用循環(huán)組合電路 B.FF的時(shí)鐘信號(hào)必須能夠從外部端口直接控制 C.FF的復(fù)位信號(hào)必須能夠從外部端口直接控制 D.掃描測(cè)試時(shí),RAM和內(nèi)核需要分開(kāi)進(jìn)行設(shè)計(jì)
A.可測(cè)性設(shè)計(jì)就是在設(shè)計(jì)階段考慮測(cè)試因素,犧牲一部分芯片面積換得測(cè)試的容易化 B.可測(cè)性設(shè)計(jì)使用自動(dòng)生成工具(ATPG),易于生成故障覆蓋率高的測(cè)試模式 C.可測(cè)性設(shè)計(jì)由于增加了設(shè)計(jì)負(fù)荷,將一定導(dǎo)致芯片整體開(kāi)發(fā)成本的增加 D.可觀(guān)察性與可控制性是衡量可測(cè)性設(shè)計(jì)的兩個(gè)尺度
A.制造誤差 B.性能問(wèn)題 C.制造故障 D.功能未滿(mǎn)足顧客的需求