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使用靈敏度試片的目的之一是要了解探傷面上磁場的方向和大小。
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靈敏度試片可用于測量磁粉探傷裝置的性能和磁粉性能。
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A型試片貼在試件上時(shí),必須把有槽的一面朝向試件。
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