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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】消除“Latch-up”效應(yīng)的方法？
答案：
版圖設(shè)計(jì)時(shí)：為減小寄生電阻Rs和Rw，版圖設(shè)計(jì)時(shí)采用雙阱工藝、多增加電源和地接觸孔數(shù)目，加粗電源線和地線，對(duì)接觸進(jìn)行合理...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】什么是MOS晶體管的閂鎖效應(yīng)，其對(duì)晶體管有什么影響?
答案：
在單阱工藝的MOS器件中（P阱為例），由于NMOS管源與襯底組成PN結(jié)，而PMOS管的源與襯底也構(gòu)成一個(gè)PN結(jié)，兩個(gè)PN...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】什么是MOS晶體管的有源寄生效應(yīng)？
答案：
MOS晶體管的有源寄生效應(yīng)是指MOS集成電路中存在的一些不希望的寄生雙極晶體管、場(chǎng)區(qū)寄生MOS管和寄生PNPN（閂鎖效應(yīng)...
