單項(xiàng)選擇題

主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面平行的片狀缺陷的雙探頭法是()。

A. 交叉式
B. V型串列式
C. K型串列式
D. 串列式

微信掃碼免費(fèi)搜題