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對于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗的參數(shù)是()
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
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軟保護膜探頭使用于()的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
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超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
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