A.測(cè)量時(shí)不能用力太大,以免塞尺遭受彎曲和折斷B.根據(jù)結(jié)合面間隙情況選用塞尺片數(shù)C.使用片數(shù)越多越好D.可以測(cè)量溫度較高的工件,不能測(cè)量正在工作的工件
A.尺寸B.形位公差C.表面粗糙度D.公差
A.殘余應(yīng)力、晶粒變化、熱損傷區(qū)、微觀組織變化以及化學(xué)性質(zhì)及電特性的變化B.晶粒變化或微觀組織變化C.熱損傷區(qū)、微觀組織變化以及化學(xué)性質(zhì)及電特性的變化D.化學(xué)性質(zhì)變化或電特性變化