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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】試說(shuō)明用電阻法研究金屬的晶體缺陷（冷加工或高溫淬火）時(shí)為什么電阻測(cè)量要在低溫下進(jìn)行？
答案：
根據(jù)馬西森定則，晶體缺陷所帶來(lái)的電阻和溫度升高帶來(lái)的電阻是相互獨(dú)立的，在低溫下測(cè)量電阻，則溫度帶來(lái)的電阻變化很小，所測(cè)量...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】表征超導(dǎo)體的三個(gè)主要指標(biāo)是什么？目前氧化物超導(dǎo)體的主要弱點(diǎn)是什么？
答案：
指標(biāo)：臨界轉(zhuǎn)變溫度、臨界磁場(chǎng)強(qiáng)度、臨界電流密度。
主要弱點(diǎn)是臨界電流密度低。
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】試說(shuō)明接觸電阻產(chǎn)生的原因和減小這個(gè)電阻的措施。
答案：
接觸電阻產(chǎn)生的原因有兩個(gè)：
一是因?yàn)榻佑|面不平，真正接觸面比看到的要小，電流通過(guò)小的截面必然產(chǎn)生電阻，稱為會(huì)聚...
一是因?yàn)榻佑|面不平，真正接觸面比看到的要小，電流通過(guò)小的截面必然產(chǎn)生電阻，稱為會(huì)聚...
