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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】如果要對(duì)樣品中一塊微區(qū)（微米量級(jí)）進(jìn)行物相分析，可以采用哪些測(cè)試方法？如果對(duì)該微區(qū)進(jìn)行化學(xué)成分分析，可用那些測(cè)試方法？
答案：
微區(qū)物相分析：采用透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法；
微區(qū)進(jìn)行化學(xué)成分分析：可采用電子探針EPMA和俄歇電子...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】如果一個(gè)樣品的X射線衍射圖譜中某個(gè)晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低，而衍射峰強(qiáng)度比卡片值明顯偏高，說(shuō)明該樣品就有什么樣的結(jié)構(gòu)特征？
答案：
2dsinθ=λ，由于2θ值下降，因而晶面間距增大，原子固溶度增大，晶格發(fā)生畸變。...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述從X射線衍射圖譜中可以知道被檢測(cè)樣品那些結(jié)構(gòu)信息？
答案：
X射線衍射圖譜具有3要素，衍射線的位置、強(qiáng)度以及線型，從這些要素中我們可以獲得以下關(guān)于晶體信息：物相分析；點(diǎn)陣參數(shù)，膨脹...
