設(shè)總體為其樣本,驗(yàn)證統(tǒng)計(jì)量是參數(shù)p的相合估計(jì)量
設(shè)電子元件的壽命(小時(shí))服從參數(shù)λ=0.0015的指數(shù)分布,今測(cè)試6個(gè)元件,記錄下它們各自失效的時(shí)間。問(wèn): (1)這里的總體和樣本分別是什么? (2)寫(xiě)出樣本的聯(lián)合概率密度; (3)設(shè)有樣本的一組觀測(cè)值:600,670,640,700,620,610,試計(jì)算樣本均值和樣本方差。
設(shè)證明: