下圖為試件電導(dǎo)率變化引起線圈阻抗變化的軌跡,比較圖中A、B兩點的電導(dǎo)率應(yīng)為()。
A.σA=σB B.σA<σB C.σA>σB D.無關(guān)系
A.增加 B.減半 C.減小3/4 D.增加3倍
A.缺陷 B.電導(dǎo)率 C.尺寸 D.以上三項都可以