A.結(jié)構(gòu)和機(jī)械試驗(yàn); B.電磁兼容試驗(yàn); C.絕緣性能試驗(yàn); D.電源影響試驗(yàn)。
A.結(jié)構(gòu)和機(jī)械試驗(yàn); B.氣候影響試驗(yàn); C.絕緣性能試驗(yàn); D.電源影響試驗(yàn)。
A.語義、語法與體系結(jié)構(gòu); B.硬件、軟件與數(shù)據(jù); C.語義、語法與時(shí)序; D.體系結(jié)構(gòu)、層次與語法。
A.17; B.18; C.19; D.20。
A.102; B.105; C.104; D.103。
A.絕緣電阻試驗(yàn); B.絕緣強(qiáng)度試驗(yàn); C.沖擊耐壓試驗(yàn); D.絕緣電阻試驗(yàn)、絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)、沖擊耐壓試驗(yàn)。