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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】晶體缺陷根據(jù)維數(shù)可分為哪四種？
答案：
點(diǎn)缺陷—空位、自填隙等
線(xiàn)缺陷—位錯(cuò)
面缺陷—層錯(cuò)
體缺陷
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】GaAs相對(duì)Si的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)是什么？
答案：
優(yōu)點(diǎn)：
A.比硅更高的電子遷移率，高頻微波信號(hào)響應(yīng)好——無(wú)線(xiàn)和高速數(shù)字通信
...
A.比硅更高的電子遷移率，高頻微波信號(hào)響應(yīng)好——無(wú)線(xiàn)和高速數(shù)字通信
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述微芯片技術(shù)發(fā)展的主要趨勢(shì)
答案：
提高芯片性能（速度、功耗）、提高芯片可靠性（低失效）、降低芯片成本（減小特征尺寸，增加硅片面積，制造規(guī)模）
