A.黑盒測(cè)試通常是針對(duì)功能的測(cè)試 B.白盒測(cè)試主要針對(duì)結(jié)構(gòu)的測(cè)試 C.黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試都能測(cè)試程序內(nèi)部的特定部位 D.白盒測(cè)試無法檢測(cè)程序的外部特性
A.需求分析 B.概要設(shè)計(jì) C.編碼 D.數(shù)據(jù)庫(kù)設(shè)計(jì)
A.LCD B.LED C.VFD D.CRT
A.功能錯(cuò)誤或遺漏 B.界面錯(cuò)誤 C.程序分支錯(cuò)誤 D.性能錯(cuò)誤
A.詳細(xì)設(shè)計(jì) B.測(cè)試說明 C.軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)文檔 D.測(cè)試計(jì)劃 E.測(cè)試用例 F.需求文檔
A.HTTPS B.ET C.POP3 D.DNS